Новое поступление
Магазина Nanomaterials development experts Store работает с 19.04.2019. его рейтинг составлет 82.35 баллов из 100. В избранное добавили 347 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.3 в продаже представленно 1874 наименований товаров, успешно доставлено 68 заказов. 17 покупателей оставили отзывы о продавце.
Характеристики
*Текущая стоимость 1 350,89 - 4 554,64 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"
Месяц | Минимальная цена | Макс. стоимость | Цена |
---|---|---|---|
Sep-18-2025 | 1607.8 руб. | 1687.6 руб. | 1647 руб. |
Aug-18-2025 | 1593.54 руб. | 1673.33 руб. | 1633 руб. |
Jul-18-2025 | 1337.42 руб. | 1404.54 руб. | 1370.5 руб. |
Jun-18-2025 | 1566.92 руб. | 1644.85 руб. | 1605 руб. |
May-18-2025 | 1364.16 руб. | 1432.24 руб. | 1398 руб. |
Apr-18-2025 | 1539.76 руб. | 1616.59 руб. | 1577.5 руб. |
Mar-18-2025 | 1526.34 руб. | 1602.38 руб. | 1564 руб. |
Feb-18-2025 | 1512.24 руб. | 1588.95 руб. | 1550 руб. |
Jan-18-2025 | 1499.59 руб. | 1574.82 руб. | 1536.5 руб. |
Описание товара
Заявление: все подложки в нашем магазине обрабатываются физическими заводами. Окно/подложка/пленка с покрытием могут быть отполированы на оптическом уровне и могут быть настроены по размеру. Характеристики продукта: одинарный кристалл, 50,8 мм * 0,4 мм, длина волны передачи: 1200-14000нм, двухсторонняя полировка, пятно. Материал: монокристаллическая подложка из кремния высокой чистоты, дополнительный тип N/P, удельное сопротивление: 0,0001-100 Ом, опционально.
Предложение по другим спецификациям: двухсторонняя полировка 2 дюйма * 0,4 мм: 55 юаней за штуку; 4 дюйма * 0,5 мм: 85 юаней за штуку; 6 дюймов * 0,7 мм: 115 юаней/шт; 8 дюймов * 0,8 мм: 185 юаней за штуку; Другие размеры могут быть настроены Растущий узор: Czochralski Ориентация кристаллов: [111]/[100]/[110]; Плоскость: <1 микрон (для измерения общей поверхности) Шероховатость поверхности: около 5 А (для измерения микроморфологии поверхности); Назначение: 1. Покрытие PVD/CVD в качестве подложки; 2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующая электронная микроскопия), AFM (атомная силовая микроскопия), FTIR, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные субстраты. 3. Перевозчик образца для эксперимента синхротронного излучения; 4. Основа для роста MBE. 5. Технология полупроводниковой литографии
Смотрите так же другие товары: